1. A. Verma, T.C. Goel, R.G. Mendiratta and R.G. Gupta, J. Magn. Magn. Mater, 192(1999)271.
2. A.V. Tadeev, G. Delabouglise, and M. Labeau, Thin Solid Films 337, 163(2003).
3. B.K. Bammannavar, L.R. Naik and R.B. Pujar, Progress in Electromagnetic Research Letter, 4 (2008)
4. D. H. Kim, J. S. Yang, K. W. Lee, S. D. Bu, T. W. Nob, S. J. Oh, Y. W. Kim, J. (1993)
5. K. L. Chopra, S. Major and D. K. Pandya, Thin Solid Films 102, 1 (1983).
6. K. Sato and H. Katayama-Yoshida, Jpn. J. Appl. Phys. 39, L555 (2000).
7. P. A. Stampe, R. J. Kennedy, Y. Xin, J. S. Parker, J. Appl. Phys. 92, 7114 (2002). . S. A. Chambers, S. Thevuthasan, R. F. C. Farrow, R. F. Marks, J. U. Thiele, L. Folks, M. G. Samant, A. J. Kellock, N. Ruzycki, D. L. Ederer, and U. Diebold, Appl. Phys. Lett. 79, 3467 (2001).
8. S. Chung, H. Tanaka, H. Y. Lee and T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 81, 2421 (2002).
9. S. R. Shinde, S. B. Ogale, J. S. Higgins, H. Zheng, A. J. Millis, V. N. Kulkarni, R. Ramesh, R. L. Greene, and T. Venkatesan, Phys. Rev. Lett. 92, 166601 (2003).
10. W. Prellier, A. Fouchet and B. Mercey, J. Phys. Condens. Matter 15, RI583 (2003).